三电联调测试系统
整车及控制器在环测试（X-in-the-Loop）
在控制策略开发到测试的各个阶段引⼊在环测试（X-in-the-Loop），已被证明是⼀种有效的软硬件结合测试的解决⽅法，可确保在功能开发的早期阶段即完成嵌⼊式测试，到系统整合阶段时的测试就要⽐传统的测试⽅法验证得更加彻底和全⾯。
以硬件在环测试为代表的各种在环测试⼿段可⽤于电动汽⻋中各类控制器的功能测试，包括但不限于三电控制器（VCU/BMS/MCU/OBC等）、V2X和ADAS控制器、智能化底盘控制器、域控制器和中央⽹关等，通过模拟控制器在不同⼯作条件下的⼯作环境，实现控制算法验证和故障诊断测试。
三电联调硬件在环（HiL）测试系统
HiL仿真被证明是一种有效的解决方法。该技术能确保在开发周期早期就完成嵌入式软件的测试。到系统整合阶段开始时，嵌入式软件测试就要比传统方法做得更彻底更全面。
HiL测试系统用于电动汽车中ECU控制功能的测试，MCU-HiL、BMS-HiL、VCU-HiL、FCU-HiL等通过模拟ECU在不同工作条件下的工作环境，实现 控制算法验证和故障诊断测试。
产品特点
- 集成动态模型，可进行闭环实时控制
- 模块化方式搭建整个系统，测试功能易于扩展，易于维护
- 仿真模型具有开放性，支持用户修改模型参数
- 开放式结构支持与测量标定工具的集成
- 硬软件模拟各类电气故障
- 广泛的模型选择，信号质量优良
三电联调测试
新能源汽车区别于传统车核心的技术是“三电”，包括电驱动，电池，电控；随着新能源三电系统技术日渐成熟，动力系统匹配性能逐步成为新能源汽车整车性能的决定性因素之一。集成的三电联调系统越来越得到众多新能源整车厂的重视，此系统包含VCU HiL、BMS HiL、MCU HiL硬件在环测试系统,可以对VCU、BMS、MCU（控制板）进行独立测试和三电联调测试。
东方中科基于动力域实验台，开发出包含电池管理系统（BMS）、电机控制器（MCU）及整车控制器（HCU/VCU）的三电联调仿真测试系统，从而实现三个控制器的联合测试功能。
测试内容
本测试系统中VCU HiL、BMS HiL、MCU HiL基于NI产品进行搭建，具有极强的扩展性和通用性，VCU HiL配合上位机可独立完成VCU控制器HiL测试，BMS HiL配合上位机可独立完成BMS控制器HiL测试，MCU HiL配合上位机可独立完成MCU控制器HiL测试。VCU HiL、BMS HiL、MCU HL可通过PXI机箱背板时钟进行时钟同步和反射内存板卡进行数据交互完成VCU、BMS、MCU联合测试。
系统功能
- 支持整车仿真模型及虚拟控制器仿真模型的实时运行
- 支持总线仿真、故障注入
- 支持低压电源仿真、电芯模拟和霍尔模拟、高压安全和绝缘电阻模拟、电池温度模拟和分流器、旋变激励信号模拟
- 可输出控制器所需各类IO信号，并采集控制器发送出的所有信号，实现模拟量信号采集及输出、数字量信号采集及输出、CAN总线信号仿真及与控制器数据交互
系统优势
- BMS HiL，VCU HiL，MCU HiL均可独立运行，三个HiL系统联合运行无需硬件改动就可切换
- 软件无需编程即可创建测试应用，可快速将硬件I/O与多种环境下开发的仿真模型相集成，可通过NI LabVIEW及其它软件添加自定义和其它自动化测试功能
- 数据显示设备可独立显示每个HiL系统状态，也可以整体显示，显示器使用无边框显示器进行无缝连接
- BMS/MCU/VCU/HCU的HiL系统能够与相应控制器、以及联合控制器组进行开环、闭环测试
- 基于NI开放的模块式硬件平台，系统中设备采用模块化设计方便设计和更换；
- 支持多种总线通讯(CAN, LIN, FlexRay)
- 可自动控制实现多种硬件故障注入，如开路、短路等
- 基于开放的PXI标准，兼容来自70多个设备供应商的超过1,200种产品
- 可使用任何编程语言编写的测试代码模块开发测试序列
- 可将仿真模型在不同硬件平台上转移不需改变模型本身内容
提问
您的问题将推送给已购用户，TA们会帮您解答
