NI全联结峰会2024于11月12日在中国上海（国际会议中心，浦东新区陆家嘴滨江大道2727号）举办。峰会包括一场主题演讲和四个专题论坛，分别是：LabVIEW与测试测量技术，新能源汽车，半导体，前沿研究(高校科研等)。现场更有40+实例展示，丰富的LabVIEW社区活动，纵享一整天技术盛宴。

2024年5月，随着合作协议的正式签署，东方中科正式成为了NI在中国大陆地区的授权培训合作伙伴。东方中科在苏州、北京、成都、深圳、杭州等多地开设了NI培训课程。东方中科，作为国内测试测量与系统集成解决方案提供商，结合NI在自动化测试测量领域的卓越技术与经验，共同为您打造一站式技术成长平台。

NI DAQ新品将在9月实力登场，邀您一起见证！欢迎参加线上发布会，了解NI的全新DAQ技术如何提供更好的测量、软件支持和用户体验。 此网络研讨会面向对数据采集、测试数据具有高质量要求、并注重减少仪器仪表应力的工程师或测试专业人员。

汽车测试及质量监控博览会将于2024年8月28日至30日在中国上海世博展览馆盛大举行。东方中科将携专业设备与前沿技术成果亮相9006展位，为您深入介绍东方中科在新能源、智能驾驶、智能网联、高压集成等领域的多样化测试解决方案，为您全方位呈现东方中科在研发测试业务的版图。我们诚邀您届时莅临，现场更有新品发布、丰富活动和抽奖礼品等您。

由NI与东方中科联合举办的自动化测试与测量技术研讨会，以 高效测试，为“智”造提速 为主题，通过展示NI平台化测试测量技术，讨论如何基于通用测试平台高效完成实验室验证，产线测试及设备数据监测等应用，连通产品从研发、生产到应用的全流程，并通过测试数据的分析改善系统，提升效率，优化成本。在会议中，您将与技术专家现场交流讨论，帮助您更好的规划并开展项目应用。

NI CompactDAQ是一款模块化数据采集系统，提供60多个测量块，连接不同类型信号，兼具更快的速率、更高的分辨率、更优良的噪声屏蔽及精准同步等优势，适用不同场景下的高质量测量需求。工程师为什么选择NI CompactDAQ进行电气和传感器测量？锁定3月27日的网络研讨会，NI专家将围绕模块化的价值、CompactDAQ概述、Demo演示等方面展开精彩讲解。

本次会议通过展示NI平台化测试测量技术，讨论如何基于通用测试平台高效完成实验室验证，产线测试及设备数据监测等应用，连通产品从研发、生产到应用的全流程，并通过测试数据的分析改善系统，提升效率，优化成本。在会议中，您将与技术专家现场交流讨论，帮助您更好的规划并开展项目应用。会议同期举办数据采集动手课程，工程师现场教您从0开始快速搭建NI数据采集系统，名额有限，先到先得。

进行嵌入式软件测试时，集成模型是对真实世界状况进行有效仿真的关键一步。产品测试和验证需要依赖高保真模型来重现真实的状况。然而，模型设计者和测试工程师有不同的诉求和关注重点，两方的关系较为复杂。通过简化测试工程师将模型集成/到测试设备中的方式，可以减少错误并缩短开发时间。本网络研讨会介绍了测试工程师可如何使用NI的VeriStand以及Mathworks®与NI共同开发的工具，将Mathworks® Simulink®中内置的模型集成到测试框架中。了解如何集成CPU和FPGA模型，以及如何快速获取Simulink IP并在FPGA硬件上运行。

您是否为需要DIY测试系统而苦恼，必须对它进行维护或扩展才能真正满足测试需求？您是否因为无法简单地重用代码而需要花时间重写上个测试中同样的代码？在本次网络研讨会中，您将了解如何使用NI的互联软件平台来标准化工作流程并缩短测试时间，利用软件解决方案的优势，将时间更多地花在产品测试而不是管理软件工具上。研讨会结束后，您还将获得会上演示范例的分步指南，便于您亲自操作或分享给同事。

本次活动您将听到三位来自不同领域的芯片验证专家的精彩讲座，了解实验室Validation自动化实现过程中的三方面挑战，模拟芯片验证的发展历程与未来趋势，以及玩转数字模式仪器之高速FPGA篇。同时还有机会参与小组互动讨论交流，与其他芯片验证工程师们分享您的观点和问题，拓展您的人脉和视野。