存储芯片测试方案
存储芯片,又称为存储器,是指利用电能方式存储信息的半导体介质设备,其存储与读取过程体现为电子的存储或释放,广泛应用于内存、U盘、消费电子、智能终端、固态存储硬盘等领域,是应用面广、市场比例高的集成电路基础性产品之一。存储芯片对于大数据、云计算及物联网等各个领域的应用都是不可被取代的重要元件。 据WSTS统计,目前全球存储芯片市场规模已超过4000亿美元,预计到2023年,全球市场规模有望超过1万亿,中国的市场规模将会达到6500亿美元,占到全球市场的60%左右。存储芯片主要分为易失性存储和非易失性存储。易失性存储芯片主要是内存类型,如DRAM、SDRAM等。非易失性存储包括EERPOM、NOR Flash、NAND Flash等。目前,市场上主流存储芯片测试机基本被美系、日系厂商所把持,其测试设备售价超百万美元,对于普遍测试时间很长的存储芯片来说,成本压力巨大。
加速科技具有完全自主知识产权国产250MBps髙性能数字混合信号测试机,对于市场上EEPROM、中小容量NOR Flash,及嵌入式存储器有着良好的支持。适合DIO通道与电源、高压源配比及模块化的资源,使得多site扩展简便易行。高容量向量深度,可满足中小容量存储芯片的存储功能测试。系统、各模块间高速通信帯宽,算法硬件调度,可有效提升测试效率。
系统优势
- 125MHz测试频率,数据速率250Mbps
- DIO通道与电源、高压源1: 8配比,满足存储芯片多工位测试需求,高压源13.5V,满足芯片编程需要
- 测试资源模块化,易于多工位扩展,最大支持160工位8管脚芯片同时测试
- 上位机、主控及业务板间40Gbps通信,算法完全硬件调度,有效提升测试效率
- 底层算法可根据客户需求定制,支持高速存储芯片如NAND Flash,DDR系统级测试方案开发
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