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加速科技 ST2500系列 高性能数模混合信号测试系统

加速科技 ST2500系列 高性能数模混合信号测试系统
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型  号:ST2500系列
名  称:高性能数模混合信号测试系统
品  牌:加速科技(SPEEDCURY)
分  类:半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机
产品属性:主机
简  述:

ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输,125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联,实现32~1280数字通道灵活组合配置,实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式(单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8),对于小型芯片测试应用,具有极高的成本优势。

加速科技 250Mbps高性能数字混合信号测试系统,根据系统资源配置可分为ST2516、ST2532、ST2564及ST2628四款产品。

ST2500系列产品支持250Mbps数据传输,125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联,实现32~1280数字通道灵活组合配置,实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式(单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8),对于小型芯片测试应用,具有极高的成本优势。对于特殊的测试需求,还支持扩展更多的测试板卡及模块,如SMU、HSAWG、HSDGT、BlueTooth测试模块等。

ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具,方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试,提供专用的工厂界面,并拥有丰富的数据记录和分析工具。

 

产品优势

 

  • 高效率
    • 集成40Gbps通信总线,双工模式高效传输
    • FPGA硬件实现调度算法,无阻塞全并行测试
    • 广播式向量加载及动态修改,向量高速下载
    • 相比传统机台效率提升30%以上
  • 可扩展
    • 通信架构,模块化设计
    • 支持级联扩展,提升通道密度
    • 支持功能板卡扩展,提升资源种类
  • 易维护
    • 支持高速线缆连接和direct docking连接
    • 250Mbps信号通道间延时 < 100ps
    • 极大节省测试系统成本
    • 方便调度机台,节省运营成本
  • 可定制
    • 自主知识产权,可根据客户需求定制
    • 提供软硬件算法定制化
    • 提供IC和模组系统级测试方案

 

应用场景

 

ST2500系列数模混合信号测试系统可以广泛应用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指纹芯片、PMIC、PA、射频开关、滤波器等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。

 

产品关键特性

 

  • 采用数字混合架构,集成数字、模拟混合信号测试功能,支持125MHz时钟频率,250Mbps数据速率
  • DFB32业务板支持32路数字通道,每通道含独立PPMU模块,8机台级联,最大支持1280通道1280sites并测
  • 每通道192M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达3GB;高速通信架构,Pattern 加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率
  • 突破传统Format限制,由用户自定义波形,支持128组timing set、1024组edge set、6edge可调, 大大减少程序开发限制
  • DFB32业务板支持4路DPS(+8.4V/-3.25V电平设定,驱动电流500mA),电源支持Gang Mode,单机台最高支持20路DPS,8机台级联支持160路DPS,提供更多电源资源,提高并测能力
  • DFB32业务板支持4路100MHz TMU,1路2MSPS 16bit AWG,1路1MSPS 16bit Digitizer,提供丰富模拟资源, 可以实现数字混合测试
  • 系统支持250Mbps线缆连接模式,极大节省系统成本
  • 通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行
  • 智能软硬件维护系统,提供故障代码,精确定位软硬件故障位置
  • ST-IDE软件提供基于Eclipse的IDE开发环境,支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具
  • 针对工厂量产提供专门GUI,数据实现显示监控,提供丰富的数据记录分析工具 

ST2500系列混合信号测试系统

 

系统规格

 

SCB 系统控制板 实现整个模块板卡互联和控制
提供5个业务槽位,对外提供级联接口、调试串口
DFB32 业务板 集成数字、模拟混合信号测试功能
32ch数字通道:250Mbps数据速率,每通道192M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达3GB;高速通信架构,Pattern加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率;突破传统Format限制,由用户自定义波形,支持1024组timing set,4edge可调,输入输出自由转换
4ch DPS:最大输出电流±500mA,输出电压范围-3.25V to 8.4V,支持Gang模式
32ch PPMU:输出电流范围±40mA,输出电压范围-2V to 6.5V
4ch BPMU:输出电流范围-60mA to 80mA,输出电压范围-2V to 9.25V
4ch TMU:最高100MHz
1ch AWG:16bit 2MSPS,波形存储深度64MB,单端输出
1ch DGT:16bit 1MSPS,波形存储深度64MB,单端输入
8ch CBIT:输出电压5V,驱动电流最大100mA
4ch GPIO:通用IO接口,可以配置为I2C,SPI等低速接口
配置 ST2516 1SCB+5业务板(DFB32)
ST2532 2SCB+10业务板(DFB32)
ST2564 4SCB+20业务板(DFB32)
ST2628 8SCB+40业务板(DFB32)

 

系统配置

 

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置

ST2516混合信号测试系统 160数字通道,160PPMU通道,20DPS ST2516混合信号测试系统 ST2516混合信号测试系统
ST2532混合信号测试系统 320数字通道,320PPMU通道,40DPS ST2532混合信号测试系统 ST2532混合信号测试系统
ST2564混合信号测试系统 640数字通道,640PPMU通道,80DPS ST2564混合信号测试系统 ST2564混合信号测试系统
ST2628混合信号测试系统 1280数字通道,1280PPMU通,160DPS ST2628混合信号测试系统 ST2628混合信号测试系统

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