CIS测试方案
近两年,全球CIS(CMOS图像传感器)需求出现了爆发式增长,据IC Insights预测,2021年CIS销售额将年增19%, 至228亿美元,有望连续10年刷新纪录。移动应用正在越来越多地采用多摄像头和指纹扫描摄像头技术进行用户身份验证。随着芯片设计复杂度的增加,所需测试时间也在相应增长。此外,汽车应用领域还面临着封装芯片测试中低温和高温测试的影响,不同温度下的多道测试也使测试次数明显增加。随着图像传感器越来越复杂化,新功能越来越多,如何加快测试时间和上市时间成为一大焦点。国外的CMOS图像传感器测试设备研发有近+年的历史,一些大的测试设备提供商都有相应的设备。但他们的设备价格非常昂贵,一般都需要几十万美元。
加速科技具有250Mbps以上高性能数字混合测试机,利用多年积累的高速分布式通信技术和高性能算法加速技术,提供一整套高性能低成本的CIS测试解决方案。该解决方案支持高达64颗2.5Gbps MIPI D PHY接口采集,满足了日益增长的高分辨率图像传感器需求,利用高达160Gbps分布式通信技术实现高速图像釆集,图像功能测试数据和DC数据无缝融合。利用高性能算法加速技术可以大大加快图像算法处理时间,大大提高整体测试时间,同时还允许客户实现定制化的图像测试算法来创建并保护测试IP。
CIS测试系统架构
CIS测试系统优势
- 支持 1.6Gbps~2.5Gbps MIPI D PHY接口
- 支持2.5Gbps C PHY (定制板卡)
- 支持定制LVDS接口
- 支持4~64颗并测
- 支持4组40Gbps高速通信接口
- 支持250Mbps/500Mbps/lGbps数字板卡
- 支持最高160通道数字电源
- 支持客户定制光源
- 搭配专业SoC数字板卡,实现强大的SoC测试能力
- 支持DC数据和图像功能测试数据融合管理
- 幵放FPGA内实现图像测试算法
CIS测试系统应用场景
CIS FT测试示意图
CIS CP测试示意图
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