森美协尔 H系列 手动探针台
型 号:H系列
名 称:手动探针台
品 牌:森美协尔(SEMISHARE)
分 类:半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台
产品属性:主机
简 述:
SEMISHARE研发的卡盘移动技术,可满足您对整片晶圆快速测试的需求,H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。
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SEMISHARE研发的卡盘移动技术,可满足您对整片晶圆快速测试的需求,H系列探针台非常适合研发类实验室的 一次性预算购置。
产品亮点:H系列手动探针台
- 三段式可升降针座平台
- 便于定位,快速分离样针
- 标配金相显微镜,达到1μm以上的Pad测试
- 可搭载激光器进行FA失效分析/激光切割
- 气控式卡盘移动技术,可快速拉出卡盘
产品参数:H系列手动探针台
卡盘移动平台(标准配置)
XY行程范围 | 150mm*150mm/200mm*200mm/300 mm x 300 mm |
XY最佳行程 | 300mm x 300 mm(满足大范围行程测试) |
移动精度/分辨率 | < 1.0 µm (~1 mm/rev) |
平面性 | ±5µm |
theta行程 | 粗调:360° |
微调精度:± 8.0° | |
分辨率:7.5 x 10-3 gradient | |
运动控制 | 气控+大手柄控制 |
Z轴快速升降 | 快速升降:3mm |
微调升降:0-13mm,精度:≤2µm |
手动显微镜平台
移动范围 | 50 mm x 50 mm |
移动分辨率 | ≤2µm |
显微镜Z升降 | 25mm-100mm *取决于显微镜配置 |
气动升降50mm | |
运动控制 | 独立控制的X和Y旋钮 |
针座平台
材料 | 钢镀镍 |
最大针座数量 | 8 DC and 4 RF(取于针座配置) |
卡盘到针座平台下底面最佳距离 | 8mm(卡盘上表面与针座平台下表面) |
Z-height运动范围 | Max.0-40mm (取于卡盘配置) |
针座平台升降 | 3段:分离(300µm),卡盘装载(2-5mm),不间断升降(0-40mm) |
接触重复性 | < ±1µm |
RF 针座固定 | 磁力吸附/真空吸附 |
DC 针座固定 | 磁力吸附/真空吸附 |
(*规格和设计如有更改,恕不另行通知。)
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