Keithley 2606B 高密度 SourceMeter SMU 仪器

2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 仪器 概述

将密度提高 3 倍
当生产测试机架空间增加且您需要尽量减少增加新测试机架的需求时，与传统 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一机架区域中增加更多通道容量。

• 方便堆叠和安放
• 无需增加 1U 隔热间距
• 相同机架空间内的通道数提高 3 倍
• 通道数相同但占用空间减少 3 倍

兼具两台 2602B 的功能
在 1 U 外形中体验相当于 Keithley 2602B 系统 SourceMeter 的先进测量完整性、同步、速度和精度。2606B 也与 2602B 使用同样的模拟、数字 I/O 和 TSP Link 连接器，实现无缝迁移。

• 0.015% 基本测量精度
• 6 1/2 位分辨率
• 100nA 低电流范围与 2pA 灵敏度
• 8 针 Phoenix 模拟和 25 针数字 I/O 连接器

系统性能提供无与伦比的生产吞吐量
测试脚本处理器 (TSP?) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序，提供较佳性能。TSP-Link? 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。<500 ns 时所有通道同时独立受控。

• 消除与 PC 之间耗时的总线通信
• 兼容仪器 2602B SourceMeter 的 TSP 脚本代码
• 连接多达 32 个 TSP-Link 节点或 64 条独立 SMU 通道
• 随着测试要求变化轻松重新配置

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 仪器 型号

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 仪器 应用

3D 传感应用的激光二极管 (VCSEL) 生产测试
适合激光二极管 (LD) 生产测试的较佳直流测试系统，采用高速高精度 SMU 进行激光二极管模块光电二极管电流的电流源和电压-电流监测。 SMU 是经济实惠的 LIV 仪器，系统同步和吞吐量高。

• 可编程电流源可达 3 A 电流和 100 ?s 脉冲宽度
• 电压和电流测量分辨率为 100 nV 和 0.1 fA
• 内置 TSP 处理功能可减少 PC 仪器总线通信

LED 的大批量生产测试
2606B SMU 用于 LED 直流检定和生产测试。其可配置为源电流或电压并结合 0.015% 基本测量精度的电压和电流测量，满足各种测试需求。此外，测试脚本处理器 (TSP?) 技术还具有吞吐量优势。

• 可编程电流源可达 3 A 电流和 100 ?s 脉冲宽度
• 电压和电流测量分辨率为 100 nV 和 0.1 fA
• 内置 TSP 处理功能可减少 PC 仪器总线通信
• 多达 64 条通道的菊花链，实现大批量并行测试

使用多通道 SMU 仪器检定晶体管
凭借其集成源和测量、电压或电流、精密度和准确度，2606B 系统 SourceMeter SMU 仪器非常适合测晶片上或包装零件内的晶体管，包括捕获漏电波形系列、门限电压、门电路漏电和跨导。

• 可编程电流源可达 3 A 电流和 100 ?s 脉冲宽度
• 电压和电流测量分辨率为 100 nV 和 0.1 fA
• 最佳精度 0.015%，6? 位分辨率
• 内置 TSP 处理功能可减少 PC 仪器总线通信

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 仪器 附件