NI测试测量技术研讨会全国巡回盛大开启！深圳、北京、西安、武汉以及更多城市敬请期待。
首站深圳定档12月12日，研讨会将分为LabVIEW及测试测量技术和半导体及消费电子两个分论坛，围绕最新LabVIEW开发技巧，测试测量技术，半导体和消费电子应用方案展开。
现场更有LabVIEW首席专家面对面交流，8场技术演讲和9个实机展示以及幸运好礼，现场参会名额有限，欢迎报名参加。
| 活动现场： | 12月12日，13:30-17:10（12点开始签到） |
| 活动地点： | 深圳威尼斯英迪格酒店- 一层，威尼斯宴会厅 （地址：深圳市南山区华侨城深南大道9026号）  |
| 码上报名： | NI测试测量技术研讨会深圳站 |
两大分论坛
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分论坛1：LabVIEW和测试测量分论坛 首席LabVIEW专家团和行业专家，将围绕如何提高开发效率，全新开源LabVIEW框架，电子测试技术，院校科研等话题展开讲解。
分论坛2：半导体及消费电子分论坛 本分论坛聚焦于半导体测试现代化，串联芯片实验室到量产测试的每个环节。我们将深入探讨半导体实验室的高效构建策略，通过一系列生动具体的测试案例分析，涵盖射频器件、MCU、PMIC、光电元件等多种芯片的测试，还包括从芯片、模组到手机的功耗测试，全面展示最新的测试技术和解决方案。此外，还将探讨人工智能辅助的测试方法的探索与应用。 |
Demo一览
产品展区
- LabVIEW 新特性
- 便携式数据采集与控制平台/新产品mioDAQ
- 5764多通道高速数采
- 基于抽象层思路的通用化自动化测试演示平台
半导体及消费电子应用展区
- 使用 NI VST3 射频仪器助力无线通信测试
- Wi-Fi 模组测试
- PNP测试系统
- PMIC实验室测试系统
- 光电应用测试系统
*以现场实际展示为准
